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Giorno 15 Aprile 2013 alle ore 13:30 il Dott. Giuseppe Meola, IPD Group – I&PC Division R&D, STMicroelectronics, terrà il seminario dal titolo

 “Electrical Over Stress (EOS) phenomena: protections and and test” 

presso l’Aula Savagnone del Dipartimento di Energia, ingegneria dell’Informazione e modelli Matematici (DEIM). 

Il seminario offre una panoramica delle cause di fenomeni EOS. I fenomeni di EOS includono tutte le condizioni di stress elettrico che provocano, su uno o più pin di un dispositivo integrato, livelli di tensione o di corrente superiori ai valori massimi consentiti (Absolute Maximum Ratings). Storicamente, i fenomeni di EOS sono stati una delle principali cause di danneggiamento dei dispositivi integrati. Le possibili conseguenze di un fenomeno di EOS vanno dalla degradazione delle prestazioni al danneggiamento irreversibile del dispositivo. I fenomeni di scarica elettrostatica (ESD) e latch-up sono tra le più comuni cause di EOS. 

Nel corso del seminario, verrà approfondita la tematica dei fenomeni di ESD. Il seminario descriverà le situazioni e le condizioni che durante il processo di produzione o di test possono generare un fenomeno di scarica elettrostatica sui pin di un generico circuito integrato. Nel corso del seminario saranno descritti i circuiti di protezione idonei per evitare il danneggiamento del dispositivo stesso, anche in presenza di un fenomeno di ESD. Il Dott. Meola illustrerà gli strumenti utilizzati e le prove sperimentali generalmente effettuate in azienda per verificare il livello di protezione ESD di un circuito integrato.

Nel corso del seminario saranno infine illustrate le opportunità offerte agli studenti per lo svolgimento di tesi di laurea sperimentali presso la divisione Industrial & Power Conversion di STMicroelectronics, Catania.

Il seminario è propedeutico alla visita presso i laboratori di ESD Testing di STMicroelectronics, prevista il giorno 13 Maggio 2013. Il seminario è dunque fortemente consigliato agli studenti del Corso di Laurea Magistrale in Ingegneria dell’Automazione e Elettronica che intendono partecipare alla visita guidata presso gli stabilimenti di STMicroelectronics, Catania. 

Il seminario è aperto a tutti gli studenti interessati. È prevista l'attribuzione di 0.5 CFU per seminario e visita (entrambi) per gli studenti di Ingegneria dell'Automazione, mentre 0.5 CFU per il solo seminario per gli studenti di Ingegneria Elettronica (triennale e magistrale). È necessaria la registrazione all'evento all'indirizzo  link.

Per maggiori informazioni rivolgersi al Dott. Ing. Valeria Boscaino. Locandina sul forum (link).

Si comunica che è stato convocato il Consiglio di Corso di Studi in Ingegneria Elettronica per giorno mercoledì 6 Febbraio 2012 alle ore 9:30, pertanto eventuali domande da approvare nello stesso Consiglio devono essere presentate entro quel giorno presso la segreteria del Dieet.

Il Collegio Universitario ARCES, con il contributo della Regione Siciliana, del Fondo Sociale Europeo e del Ministero del Lavoro e della Previdenza Sociale, promuove 3 corsi di formazione gratuiti nell'ambito del pacchetto formativo del Progetto Lifelong Learning. Ciascun corso è rivolto a 15 allievi/e, in età lavorativa superiore ai 18 anni (lavoratori, occupati autonomi/dipendenti, disoccupati e inoccupati).

Scadenza candidature: 23 gennaio 2013

I corsi nello specifico:

• Corso di Formazione "INGLESE (Trinity College) seconda edizione" (link)

• Corso di Formazione "SOFT SKILLS (Competenze trasversali)" (link)

• Corso di Formazione "IMPRENDITORIALITÀ" (link)

Si comunica che è stato convocato il Consiglio di corso di Studi in Ingegneria Elettronica per giorno martedì 18 dicembre 2012 alle ore 15:30, pertanto eventuali domande da approvare nello stesso Consiglio devono essere presentate entro quel giorno presso la segreteria del Dieet.

Giorno 29 Ottobre 2012 alle ore 15:00 in Aula U150 (DIEETCAM), l’Ing. Giuseppe Meola, Industrial & Power Conversion Division, STMicroelectronics, presenterà il seminario: 

“Electrical Overstress (EOS) phenomena: protections and test” 

E’ possibile effettuare tesi sperimentali presso STMicroelectronics e nel corso del seminario verranno forniti ulteriori dettagli in merito.

Per maggiori informazioni rivolgersi al Dott. Ing. Valeria Boscaino. Locandina sul forum (link).

Si comunica che in data 12 ottobre 2012 alle ore 9:00 presso l'Aula Savagnone (1° piano DIEETCAM, Edificio 9 - Facoltà di Ingegneria) avrà luogo il seminario dal titolo:

 "Working at Intersil - Power Management and Analog IC Design". 

L'evento, sponsorizzato dall'Associazione ElectrON, è stato organizzato dall'Ing. Valeria Boscaino (Power Applications Lab). Interverrà il prof. Giuseppe Capponi che introdurrà il relatore:

Ing. Claudio Collura - Lead Design Engineer, Intersil UK Design Center

Per partecipare è richiesta la registrazione al seguente link. 

Per gli studenti di ingegneria elettronica, ingegneria dell'automazione e ingegneria delle telecomunicazioni è prevista l'attribuzione di 0,5 cfu, previa consegna di una relazione relativa ai contenuti del seminario.

Per quanto riguarda i soli studenti di Ingegneria elettronica e fotonica e dell'automazione, le lezioni saranno sospese dalle ore 9 alle ore 13 per permettere la partecipazione al seminario.